「半導体パッケージ各層の観察」
「半導体パッケージの各積層の分析」でお困りではありませんか?
新発想の試料研磨機「IS-POLISHER」による半導体の研磨事例をご紹介します。
研磨事例「半導体パッケージの斜め研磨」
課題
半導体パッケージの各層の元素分析や観察を行うために浅い角度をつけて拡大研磨をしたい。
解決策
IS-POLISHERの他にはない3つの機能を使用します。
- 「2軸傾斜アジャスタ」 0.01°単位で角度調整できる機能で浅い角度の設定
- 「削り過ぎ防止機能」 削り量をミクロン単位で設定
- 「ウェイトキャンセラ」研磨時の荷重をできるだけ低い荷重に設定
この3つの機能を使うことで、難しかった浅い角度の拡大研磨が実現できます。
研磨プロセス
使用機能
詳細はこちら
試料研磨サービスの紹介
お客様の材料や製品の、品質改善や製品開発をサポートする「試料研磨サービス」を行なっています。試料研磨・観察・測定・元素分析を弊社にお任せいただくことで、他の仕事に専念でき、社内の効率化が図れます。
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