第3回 新人研修体験レポート

前回に引き続き、社員のIさんが「半導体パッケージの断面研磨」に挑戦した様子をお届けします。
今回は、BGAパッケージの断面研磨を行いました。

「一軸傾斜ホルダを使って半導体のパッケージの研磨」に挑戦

半導体パッケージの断面研磨は一軸傾斜ホルダを使用してバンプやワイヤーボンディングの配列断面が全幅にわたって観察できるように試料作製します。
特に難しいのは、配列の平行を見て調節しながら研磨することです。

一軸傾斜ホルダは研磨状態を見ながらマイクロで傾きを調整します。
IS-POLISHER搭載の「倒立型光学顕微鏡」で研磨と試料の観察を繰り返しながら一軸の調整を続けます。
試料を装置から取り外すことなく観察できるので再現性が高く確認後すぐに作業を再開できます。
先輩社員に教えてもらいながらの研磨作業でボンディング部の断面観察ができました。

1軸傾斜ホルダでの試料固定例

BGA-PKG ボンディング配列だし研磨

目的:面出し
研磨紙:耐水#2500
荷重:75g

目的:研磨条痕の削除
研磨紙:ダイヤフィルム2μm
荷重:75g

目的:研磨条痕の削除
研磨紙:ダイヤフィルム0.5μm
荷重:75g

目的:研磨条痕の削除
研磨紙:バフBSW 
研磨剤:Baikalox0.1
荷重:50g

目的:仕上げ
研磨紙:バフCSW
研磨剤:コロイダルシリカ
荷重:50g

300倍

700倍

試料研磨サービスの紹介

お客様の材料や製品の、品質改善や製品開発をサポートする「試料研磨サービス」を行なっています。試料研磨・観察・測定・元素分析を弊社にお任せいただくことで、他の仕事に専念でき、社内の効率化が図れます。

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