試料形状や目的に応じた試料ホルダを開発。
試料を直接研磨できるので、大幅な時間短縮できます

イオンミリング・クロスセクションポリッシャ前の
直角出し・平面出しが早い

イオンミリング・クロスセクションポリッシャ専用の試料ホルダを用意しています。
クランプブロックを方向変換するだけで研磨面を簡単に切り替えることができます。
対応機種:JEOL IB-19500CPシリーズ、日立ハイテク E-3500/IM4000、Leica EM TIC 3X

imcp-01

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